增駿XAD-200膜厚儀 X射線熒光測厚儀是一款全元素上照式熒光光譜儀，既保留了專用測厚儀檢測微小樣品和凹槽的膜厚性能，又可滿足RoHS有害元素檢測及成分分析，搭載全自動平臺實現XYZ軸編程位移，實現無人值守多點測量，測量軟件置入先進的EFP算法及解譜技術，解決了諸多業界難題。被廣泛用于各類產品的質量管控、來料檢驗和對生產工藝控制的測量使用。

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